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芯片液槽沖擊試驗(yàn)箱

發(fā)布時(shí)間: 2020-06-01  點(diǎn)擊次數(shù): 1373次

芯片液槽沖擊試驗(yàn)箱適合:電子芯片IC、PCB、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理性變化試驗(yàn)。
高低溫液體槽內(nèi)采用強(qiáng)迫攪拌對流方式。
液態(tài)沖擊試驗(yàn)箱采用全自動上下左右位移機(jī)構(gòu)移動試料籃至預(yù)熱、預(yù)冷槽,往返沖擊方式。
氟油采用單一相同液體于高低溫槽內(nèi),降低經(jīng)常換液體之成本。
采用原裝大型液晶LCD中文/英文顯示溫度可程式微計(jì)算機(jī)控制器。
本設(shè)備配合現(xiàn)場需要,可選擇水冷或氣冷之冷卻方式。
提籃移動時(shí)間為10秒內(nèi)。

工作原理:自動機(jī)械溫區(qū)轉(zhuǎn)換系統(tǒng),利用高溫液槽(預(yù)熱區(qū))及低溫液槽(預(yù)冷區(qū))預(yù)先升降溫儲存能量,依試驗(yàn)動作需要通過控制機(jī)械移動式試料盒(試驗(yàn)樣品放置區(qū))快速移動到低溫液槽或高溫液槽的方式,達(dá)到快速冷熱沖擊試驗(yàn)。平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(BTC),溫度程控器結(jié)合制冷系統(tǒng)的冷量輸出或加熱系統(tǒng)的熱量輸出,同時(shí)通過PID算法控制加熱系統(tǒng)產(chǎn)生相應(yīng)的熱量輸出或通過智能調(diào)整制冷容量控制制冷系統(tǒng)的制冷量輸出。冷、熱量經(jīng)特殊設(shè)計(jì)的液態(tài)流體的傳輸,均勻的分布液態(tài)試驗(yàn)區(qū),使維持所設(shè)定的液態(tài)試驗(yàn)區(qū)溫度之冷熱量損耗持續(xù)得到補(bǔ)償,從而達(dá)到快速平恒調(diào)溫。

芯片液槽沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):

型號

SE-EN6033

SE-EN5033

工作室容積(L )

2.6

 4.5

試料盒尺寸(mm)

120×120×180

 150×150×200

液槽內(nèi)尺寸(mm)

250×350×400

 280×380×420

高溫液槽溫度范圍

+60℃~+200℃

低溫液槽溫度范圍

-80℃~0℃

液態(tài)沖擊溫度

-40℃/-55℃/-65℃~0℃/+60℃+150℃

液槽轉(zhuǎn)換時(shí)間

≤10s

溫度波動度

±0.5℃

溫度均勻度

2.0

溫度偏差

±2.0

工作方式

自動機(jī)械懸架上下左右移動至高低溫液槽

外殼材料

冷軋鋼板噴粉

內(nèi)膽材料

SUS316

保溫材料

聚胺脂泡沫

制冷機(jī)組

 半封閉制冷機(jī)組

冷卻方式

水冷

安全裝置

超溫保護(hù)  壓縮機(jī)缺油/超壓/超載保護(hù) 風(fēng)機(jī)超載保護(hù) 電源故障護(hù)  

加熱器短路保護(hù)

選配件

遠(yuǎn)程監(jiān)控計(jì)算機(jī)及軟件  打印機(jī)  增加的擱板  特殊的試樣架

液態(tài)沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

GJB 150-86 GB 2423-22 MIL-STD-883 MIL-STD-202F

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